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產(chǎn)品資料
超聲波掃描顯微鏡Gen7
簡介:

SONOSCAN超聲波掃描顯微鏡是利用高頻超聲波對樣品外表和內(nèi)部進行高清成像的非破壞性測試。不同于X射線和紅外成像等其他無損檢測技術(shù),該技術(shù)則是利用超聲波對材料彈性特性極其敏感的特性,通過捕獲穿透樣品或者從樣品反射回來的聲波信號,并數(shù)字化處理這些信號進而生成視覺圖像。此起其他檢測方法,使用超聲顯微成像技術(shù)更能有效地識別并分析脫層、空洞及裂縫等缺陷。廣泛應(yīng)用于包含陶瓷、金屬、高分子材料、塑封料、電容、塑料、陶瓷體電路、表面封裝樣品、硅片和電路板等材料或者器件的內(nèi)部缺陷分析。

產(chǎn)品詳情

Gen7
 

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設(shè)備分類:實驗室、研發(fā)型

該設(shè)備廣泛的應(yīng)用能勝任眾多的需求。
除了SONOSCAN各種功能外,該設(shè)備還為用戶開放了自定義空間,讓用戶使用起來更方便舒適,并幫助客戶能夠生產(chǎn)出高質(zhì)量的產(chǎn)品。

主要功能:
 

  • 帶動態(tài)平衡塊和線性馬達驅(qū)動的掃描塔使得圖像采集更清晰

  • ESD操作臺面,**人體工程學(xué)和防靜電設(shè)計

  • 簡易裝載臺可容納JEDEC托盤和300mm晶圓

  • 精準(zhǔn)的掃描臺和樣品固定架

  • TurboSpeed加速掃描功能

  • PolyGate功能,每個通道可設(shè)置多達100個Gate,能同時收集100層感興趣的區(qū)域數(shù)據(jù),包括能量、色譜、波形等,并生成100張圖像

  • Multi-Gate和Probing-Gate功能允許單層或多層聚焦成像

  • SonoSimulator功能使薄層、多層樣品分析變得容易,例如堆疊芯片

  • STaR 模式能同時獲得反射和透射兩種圖像

  • Quantitative B-Scan Analysis Mode (Q-BAM)基于B-Scan提供切層的極性,幅值和深度數(shù)據(jù)

  • 可選Digital Image Analysis (DIA)數(shù)字圖像分析自動計算出缺陷大小、數(shù)目、多少和分布

  • 可選Virtual Rescanning Mode (VRM)樣品虛擬建模脫機掃描模式

  • 可選Waterfall流水式探頭和在線溫度控制

  • 可選FDI頻域成像模式


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